高低溫冷熱沖擊試驗(yàn)箱運(yùn)用在那些工作領(lǐng)域

高低溫冷熱沖擊試驗(yàn)箱運(yùn)用在那些工作領(lǐng)域

    高低溫冷熱沖擊試驗(yàn)箱主要考察由于蠕變機(jī)疲勞損傷引起的失效，而溫度循環(huán)主要考察由于剪切疲勞引起的失效。循環(huán)試驗(yàn)用普通的高低溫試驗(yàn)想進(jìn)行測(cè)試即可。冷熱沖擊試驗(yàn)想循環(huán)試驗(yàn)是指勻速?gòu)某亟档降蜏卦偕郎?、恒溫，以此循環(huán)類推做試驗(yàn)。這類試驗(yàn)多用于電子電式產(chǎn)品或通訊工具做測(cè)試，檢測(cè)產(chǎn)品是否能在高溫地區(qū)和低溫地區(qū)適應(yīng)各種不同的，從而判斷新研發(fā)的產(chǎn)品的銷售市場(chǎng)。
   高低溫憧憬試驗(yàn)箱用于電子電器零組件。自動(dòng)化零部件、通訊組件、汽車配件、金屬、化學(xué)材料、塑膠等行業(yè)，國(guó)防工業(yè)、航天、兵工業(yè)、BGA、PCB基板、電子芯片IC、半導(dǎo)體陶瓷及高分子材料之物理性變化，測(cè)試氣材料對(duì)高、低溫反復(fù)低拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理變化，可確認(rèn)產(chǎn)品的品質(zhì)，從精密的IC到重機(jī)械的組件，都會(huì)用到是各領(lǐng)域?qū)Ξa(chǎn)品測(cè)試的必不可少的一項(xiàng)測(cè)試試驗(yàn)箱。

高低溫試驗(yàn)箱產(chǎn)品的簡(jiǎn)述

   高低溫試驗(yàn)箱產(chǎn)品具有模擬大氣中溫度變化規(guī)律。主要針對(duì)于電工，電子產(chǎn)品，以及其元器件及其它材料在高溫，低溫綜合下運(yùn)輸，使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn)。用于產(chǎn)品設(shè)計(jì)，改進(jìn)，鑒定及檢驗(yàn)等環(huán)節(jié)。
溫度波動(dòng)度
   這個(gè)指標(biāo)也有叫溫度穩(wěn)定度，控制溫度穩(wěn)定后，在給定任意時(shí)間間隔內(nèi)，工作空間內(nèi)任一點(diǎn)的最高和最低溫度之差。這里有個(gè)小小的區(qū)別“工作空間”并不是“工作室”，是大約工作室去掉離箱壁各自邊長(zhǎng)的1/10的一個(gè)空間。這個(gè)指標(biāo)考核產(chǎn)品的控制技術(shù)。
溫度范圍
   指產(chǎn)品工作室能耐受和(或)能達(dá)到的極限溫度。通常含有能控制恒定的概念，應(yīng)該是可以相對(duì)長(zhǎng)時(shí)間穩(wěn)定運(yùn)行的極值。一般溫度范圍包括極限高溫和極限低溫。
   一般標(biāo)準(zhǔn)要求指標(biāo)為≤1℃或±0.5℃。
溫度均勻度
    舊標(biāo)準(zhǔn)稱均勻度，新標(biāo)準(zhǔn)稱梯度。溫度穩(wěn)定后，在任意時(shí)間間隔內(nèi)，工作空間內(nèi)任意兩點(diǎn)的溫度平均值之差的最大值。這個(gè)指標(biāo)比下面的溫度偏差指標(biāo)更可以考核產(chǎn)品的核心技術(shù)，因此好多公司的樣本及方案刻意隱藏此項(xiàng)。
    一般標(biāo)準(zhǔn)要求指標(biāo)為≤2℃
溫度偏差
    溫度穩(wěn)定后，在任意時(shí)間間隔內(nèi)，工作空間中心溫度的平均值和工作空間內(nèi)其它點(diǎn)的溫度平均值之差。雖然新舊標(biāo)準(zhǔn)對(duì)此指標(biāo)的定義和稱呼相同，但檢測(cè)已有所改變，新標(biāo)準(zhǔn)更實(shí)際，更苛刻一點(diǎn)，但考核時(shí)間短點(diǎn)。
    一般標(biāo)準(zhǔn)要求指標(biāo)為±2℃，純高溫試驗(yàn)箱200℃以上可按實(shí)際使用溫度攝氏度(℃)±2%要求。

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